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日本日置(HIOKI)

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LCR测试仪

  • LCR测试仪
  • 3532-50
  • 日本日置(HIOKI)
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产品详细介绍

日本日置HIOKI LR测试仪3532-50

特点:

1.        测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整

2.        可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,

所需的设定选项会顺序排列显示出来

3.      搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪

 

技术参数:

测量参数

│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q

测量方法

测量源:恒流10μ~100mA(42Hz~1MHz),50μ~20mA (1MHz~5MHz),

或恒压10mV~5V(42Hz~1MHz),50mV~1V(1MHz~5MHz)
检测:电压,AC

测量频率

42Hz~5MHz

测量量程

│Z│,R,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF
L:16.000nH
~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q:0.01
~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S

基本精度

│Z│: ± 0.08% rdg.,θ: ± 0.05°

测量时间│Z│的典型值

快速:5ms~ 慢速2:140ms

显示

最大显示值99999,LCD背光功能

比较器功能

设定:上、下限值,百分比或绝对值 输出:3档(高,中,低), 开路集电极,绝缘

外部打印

9442 (与9443/9446/9593-01同时使用)

电源供应

100~240V AC 50/60Hz

体积及重量

352宽 x124高 x 323厚mm,6.5kg

附件

电源线(1),保险丝(1)

测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来