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日本日置(HIOKI)

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LCR测试仪

  • LCR测试仪
  • 3532-50
  • 日本日置(HIOKI)
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产品详细介绍

日本日置HIOKI LR测试仪3532-50

特点:

1.        测试频率可在42Hz5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整

2.        可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,

所需的设定选项会顺序排列显示出来

3.      搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪

 

技术参数:

测量参数

Z,Y,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)Q

测量方法

测量源:恒流10μ~100mA(42Hz1MHz)50μ~20mA (1MHz5MHz)

或恒压10mV5V(42Hz1MHz),50mV1V(1MHz5MHz)
检测:电压,AC

测量频率

42Hz5MHz

测量量程

Z│,RX10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00~+180.00oC:0.3200pF370.00mF
L:16.000nH
750.00kH, D:0.000019.99999
Q:0.01
999.99 Y,G,B5.0000nS99.999S

基本精度

Z: ± 0.08% rdg.,θ: ± 0.05°

测量时间│Z│的典型值

快速:5ms~ 慢速2140ms

显示

最大显示值99999LCD背光功能

比较器功能

设定:上、下限值,百分比或绝对值 输出:3档(高,中,低), 开路集电极,绝缘

外部打印

9442 (与9443/9446/9593-01同时使用)

电源供应

100240V AC 50/60Hz

体积及重量

352 x124 x 323mm6.5kg

附件

电源线(1),保险丝(1

测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来