产品简介：
对多品种少批量基板提供高速,高精度测试的解决方案。使用标准配备的4线式低阻测试功能除检查IC引脚的开焊外,亦可以对虽电气导通但接触不良(虚焊)的引脚潜在不良进行测试。对使用历来的检查方式难以检测的场效应管(FET), 继电器(Relay), 3端子调节阀(3 leads regulator)的动态测试亦可完成。可通过增设I/O方式对应将来可能增加的各种周边设备及特殊测试要求。
特点;
1. 最适用于检测IC引脚的虚焊,对焊接状况提供品质保证
1240-01：大型基板的高速检查(Max40步/秒,510 x 610mm)
1240-02：使用于测试IC引脚的虚焊(是代替1114的新型号)
1240-03：中型基板的高速检查(Max40步/秒,400 x 330mm)
2.对多品种少批量基板提供高速,高精度测试的解决方案。
3.使用标准配备的4线式低阻测试功能除检查IC引脚的开焊外,亦可以对虽电气导通但接触不良(虚焊)的引脚潜在不良进行测试。
4.对使用历来的检查方式难以检测的场效应管(FET), 继电器(Relay), 3端子调节阀(3 leads regulator)的动态测试亦可完成。
5.可通过增设I/O方式对应将来可能增加的各种周边设备及特殊测试要求。
6.使用于测试IC引脚的虚焊(是代替1114的新型号)
7.可测出IC引脚的完全开焊和虚焊
8.最高速40步/秒测试(测试手臂抬高至2.5mm移动时)
9.可通过更改安全模式进行数据分级管理
10.不同型号之间数据自由转换
11.可根据需要进行自行设定使测试手臂在不同区域抬起不同高度,从而在局部避开较高的元器件并提高整体的测试速度极其产能
12.对应大型基板510×460mm (1240-01/-02) 对应中型基板400×330mm (1240-03)
13.可选动态测试:测试FET(场效应管),继电器的动作确认,3端子调节器的工作电压确认
对多品种少批量基板提供高速,高精度测试的解决方案。使用标准配备的4线式低阻测试功能除检查IC引脚的开焊外,亦可以对虽电气导通但接触不良(虚焊)的引脚潜在不良进行测试